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產(chǎn)品中心光譜儀X熒光光譜儀RIJ-606BROHS無鹵分析光譜儀
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ARTICLESROHS無鹵分析光譜儀
蘇州日井精密儀器，于2007年在華東區(qū)注冊成立蘇州日井精密儀器有限公司，多年來一直是從事精密量測儀器銷售及配套售后維修服務(wù)為一體的精密儀器公司。
產(chǎn)品介紹：
1.采用美國Amptek SDD高靈敏度探測器，分辨率高，探測范圍廣，涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金（含貴金屬）及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2.配置良好的DPP數(shù)字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能佳，尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)分辨率高（如Hg和CI等），高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間變短，尤其在測量重復(fù)性和長期穩(wěn)定性上有提高。
3.內(nèi)置高清攝像系統(tǒng)，清晰觀察樣品，準(zhǔn)確定位樣品測試區(qū)域。
4.配套FP測量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測結(jié)果趨近準(zhǔn)確，更加接近真值水平。
| 分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
| 分析元素 | 鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻(Cr)、氯（Cl）、溴（Br），其中氯（Cl）僅作為定性測定分析。 | |
| 工作條件 | 工作溫度：10-30℃ | |
| 相對濕度：≤70% | ||
| 電 源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz | ||
| 測定條件：大氣環(huán)境 | ||
| 技術(shù)指標(biāo) | 檢出下限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≦2 ppm | |
| 儀器均質(zhì)材料測試可靠性要求：20ppm以下50%以內(nèi),20ppm以上30%以內(nèi) | ||
| 測試樣品時(shí)間：30－900秒可調(diào) | ||
| BXR 606B | 1ppm-99.99% | |
| 樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 | ||
| X射線管：靶材/Mo 管電壓/5～45kV 管電流/最大1～1000 μA | ||
| 照射直徑：2、5、8mm | ||
| 濾光片：新型濾光片自動選擇 | ||
| 樣品觀察：USB 2.0界面 30倍130萬像素彩色CCD攝像機(jī) | ||
| 定量分析：理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) | ||
| 功率：0.35kW | ||
| 重量：50Kg | ||
| 外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm | ||
| BXR 606B | 美國Amptek SDD高靈敏度探測器 | |
| 鎢（W）靶特殊防輻射處理X光光管 | ||
| 美國Spellman高壓電源（RSD<0.25%） | ||
| 全封閉鉛板雙樣品蓋 | ||
| 高精密CCD攝像機(jī)(130萬像素) | ||
| Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)定量軟件 | ||
| 測試用樣品杯1個(gè)，測試用塑料薄膜數(shù)張 | ||
| 歐盟EC681標(biāo)樣一片、銀校正標(biāo)樣一片 | ||
ROHS無鹵分析光譜儀
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